原子力显微镜在高分子表征中的应用

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原子力显微镜在高分子表征中的应用

综述 (高分子表征技术专题) | 更新时间：2023-12-20

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- 原子力显微镜在高分子表征中的应用
- Application of Atomic Force Microscopy in Polymer Characterization
- 王冰花，陈金龙，张彬
- 高分子学报 2021年52卷第10期页码：1406-1420
- 作者机构：
  郑州大学材料科学与工程学院郑州 450001
- 作者简介：
  张彬，男，1979生. 郑州大学材料学院教授，博士生导师. 2004年本科毕业于郑州大学计算机信息管理专业，2010年于郑州大学获得材料加工工程专业硕士学位，2014年在德国弗莱堡大学化学系获得博士学位 (施陶丁格大分子研究所荣誉毕业). 2015年3月入职郑州大学，2020年6月受聘为郑州大学学科特聘教授. 主要研究方向为高分子薄膜结晶，高分子成型加工中的物理问题，高分子相转变的微观机制. 目前主持国家自然基金面上项目2项.
- 基金信息：
  国家自然科学基金(基金号51973202;51773182;52003247)
- DOI： 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20259
  中图分类号：
- 修回：2020-12-16 ，
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