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基于原子力显微镜的单分子力谱技术在高分子表征中的应用
综述 (高分子表征技术专题) | 更新时间:2022-07-08
基于原子力显微镜的单分子力谱技术在高分子表征中的应用
Application of Atomic Force Microscopy (AFM)-based Single-molecule Force Spectroscopy (SMFS) in Polymer Characterization
- 2021年52卷第11期 页码:1523-1546
DOI: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20266
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相关作者
张薇
侯矍
李楠
张文科
相关机构
吉林大学超分子结构与材料国家重点实验室

