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用透射电镜研究PS薄膜银纹的微观结构、变形特性和破坏过程
研究论文 | 更新时间:2021-03-19
    • 用透射电镜研究PS薄膜银纹的微观结构、变形特性和破坏过程

    • STUDY ON THE MICROSTRUCTURE, DEFORMATION CHARACTERISTICS AND FAILURE PROCESS OF PS FILM CRAZES BY TEM

    • 高分子学报   1984年第5期 页码:321-325
    • 纸质出版日期:1984-10-20,

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  • 吕锡慈, 范成高, 钱汝正. 用透射电镜研究PS薄膜银纹的微观结构、变形特性和破坏过程[J]. 高分子学报, 1984,(5):321-325. DOI:

    Lu Xi-ci, Pan Cheng-gao, Qian Ku-zheng. STUDY ON THE MICROSTRUCTURE, DEFORMATION CHARACTERISTICS AND FAILURE PROCESS OF PS FILM CRAZES BY TEM[J]. Acta Polymerica Sinica, 1984,(5):321-325. DOI:

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