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X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用
综述 (高分子表征技术专题) | 更新时间:2023-12-20
    • X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用

    • X-ray Diffraction Methodology for Crystal Structure Analysis in Characterization of Polymer

    • 高分子学报   2021年52卷第10期 页码:1390-1405
    • 作者机构:

      1.青岛科技大学 教育部/山东橡塑重点实验室 青岛 266042

      2.北京化工大学 碳纤维及复合材料教育部重点实验室 北京 100029

    • 作者简介:

      [ "扈健,男,1986年生. 2013~2016年在日本丰田工业大学获得工学博士学位;2016~2019年于青岛科技大学从事博士后研究;2019年任青岛科技大学高分子科学与工程学院特聘副教授. 主要利用广角和小角X射线散射,振动光谱等技术,从事结晶高分子各级结构表征、相变行为以及结构-性能关系的研究." ]

    • DOI:10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258    

      中图分类号:
    • 纸质出版日期:2021-10-20

      网络出版日期:2021-06-29

      收稿日期:2020-11-28

      修回日期:2020-12-31

    扫 描 看 全 文

  • 扈健,王梦梵,吴婧华.X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用[J].高分子学报,2021,52(10):1390-1405. DOI: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258.

    Hu Jian,Wang Meng-fan,Wu Jing-hua.X-ray Diffraction Methodology for Crystal Structure Analysis in Characterization of Polymer[J].Acta Polymerica Sinica,2021,52(10):1390-1405. DOI: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258.

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