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X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用
综述 (高分子表征技术专题) | 更新时间：2023-12-20
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    • X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用

    • X-ray Diffraction Methodology for Crystal Structure Analysis in Characterization of Polymer

    • 扈健 ，王梦梵 ，吴婧华
    • 高分子学报 2021年52卷第10期 页码：1390-1405
    • 作者机构：

      1.青岛科技大学 教育部/山东橡塑重点实验室 青岛 266042

      2.北京化工大学 碳纤维及复合材料教育部重点实验室 北京 100029

    • 作者简介：

      扈健，男，1986年生. 2013~2016年在日本丰田工业大学获得工学博士学位；2016~2019年于青岛科技大学从事博士后研究；2019年任青岛科技大学高分子科学与工程学院特聘副教授. 主要利用广角和小角X射线散射，振动光谱等技术，从事结晶高分子各级结构表征、相变行为以及结构-性能关系的研究.

    • DOI： 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258     

      中图分类号：

    • 修回：2020-12-31 ，

      录用：2020-12-31 ，

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