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X-射线衍射法测定尼龙1010结晶
研究论文 | 更新时间:2021-03-19
    • X-射线衍射法测定尼龙1010结晶

    • CRYSTALLEVITY DETERMINATION OF NYLON 1010 BY WIDE-ANGLE X-RAY DIFFRACTION

    • 高分子学报   1993年第6期 页码:655-659
    • 纸质出版日期:1993-12-20

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  • 朱诚身, 牟忠诚, 杨宝泉, 莫志深. X-射线衍射法测定尼龙1010结晶[J]. 高分子学报, 1993,(6):655-659. DOI:

    ZHU Cheng-shen, MU Zhong-cheng, YANG Bao-quan, MO Zhi-shen. CRYSTALLEVITY DETERMINATION OF NYLON 1010 BY WIDE-ANGLE X-RAY DIFFRACTION[J]. Acta Polymerica Sinica, 1993,(6):655-659. DOI:

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