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基于原子力显微镜的单分子力谱技术在高分子表征中的应用
综述 (高分子表征技术专题) | 更新时间:2022-07-08
    • 基于原子力显微镜的单分子力谱技术在高分子表征中的应用

    • Application of Atomic Force Microscopy (AFM)-based Single-molecule Force Spectroscopy (SMFS) in Polymer Characterization

    • 高分子学报   2021年52卷第11期 页码:1523-1546
    • 作者机构:

      吉林大学超分子结构与材料国家重点实验室 长春 130012

    • 作者简介:

      [ "张文科,男,1973年生. 分别于1997、2002年在吉林大学化学系(学院)获得学士、博士学位,导师为张希教授;2001~2002年于德国慕尼黑大学(LMU)博士联合培养,导师为Hermann E. Gaub教授;2003~2007年于英国诺丁汉大学从事博士后研究. 2007年6月至今,吉林大学超分子结构与材料国家重点实验室教授. 2011年入选教育部“新世纪优秀人才支持计划”;2015年获得国家杰出青年基金资助. 以原子力显微镜及磁镊等技术,从单个分子水平开展超分子作用力及大分子组装结构与组装过程研究,主要研究方向包括:单分子力谱与超分子组装、高分子结晶及力致熔融、核酸-蛋白相互作用、聚合物力化学等." ]

    • DOI:10.11777/j.issn1000-3304.2020.20266    

      中图分类号:
    • 纸质出版日期:2021-11-20

      网络出版日期:2021-05-21

      收稿日期:2020-12-07

    扫 描 看 全 文

  • 张薇,侯矍,李楠等.基于原子力显微镜的单分子力谱技术在高分子表征中的应用[J].高分子学报,2021,52(11):1523-1546. DOI: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20266.

    Zhang Wei,Hou Jue,Li Nan,et al.Application of Atomic Force Microscopy (AFM)-based Single-molecule Force Spectroscopy (SMFS) in Polymer Characterization[J].ACTA POLYMERICA SINICA,2021,52(11):1523-1546. DOI: 10.11777/j.issn1000-3304.2020.20266.

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